耳机综合测试仪特点:
品名:耳机综合测试仪
主要特点:
· 典型的THD+N -106 dB以及24位、1百万点的FFT (选件)
· 不需要任何编程,在3秒内进行全面测试
· 直观的用户接口,一键点击测量
· 支持VB.NET,C#.NET,全面地LabVIEW驱动
· 用脚踏开关或条码扫描器控制APx
· 在任何一台APx仪器上分享工程文件以及采集的.wav文件
· 用MS word 或APx的用户接口创建自定义的测试报告
· 高级的测量库包括IMD, MOL, 动态范围, FFT或更多 (选件)
型号和选件:APx515只有一个型号,但有软件选件扩展测量能力
APx515 2通道輸入/出 192k采樣数字 I/O接口音频分析仪
SW-HST 增加高速测量的多音(Multi-tone) 和连续扫描 (Continuous Sweep) 测量
SW-AML 增加IMD、MOL、动态范围、FFT以及其他高级测量工具库
SW-ACR 增加声学响应测量
SW-ALL HST+AML+ACR
测量参数:
APX515测量功能
音频测量: | 声学测量: |
1、输出电压 | 1、频响曲线(灵敏度)SPL |
2、功放增益 | 2、失真 |
3、输出功率 | 3、极性 |
4、总谐波失真 | 4、声学相位 |
5、频率响应 | 5、异音Rub & Buzz 检测 |
6、分离度/串扰 | 6、T/S参数 |
7、信噪比 | 7、阻抗曲线及音圈直流电阻 |
8、底噪 | 8、空气泄露检测 |
9、相位 | 9、瀑布和极化图 |
10、互调失真 | 10多次谐波 |
11、动态范围 |
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12、共模抑制比 |
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13、直流偏移 |
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系统性能指标 | |
残余THD+N | 典型值<-105dB(1k Hz,1V) |
信号发生器 | |
频率范围 | 0.1Hz ~ 80K Hz |
频率精度 | 3 ppm |
zui大幅度 | 平衡16Vrms,非平衡7.5Vrms |
幅度精度 | ±0.05dB |
平坦度(20Hz~20KHz) | ±0.01dB |
通道 | 平衡×2,非平衡×2,共模;数字平衡×1,非平衡×1,光纤×1 |
输出阻抗 | 平衡 100Ω/600Ω,非平衡50Ω/600Ω |
信号分析仪 | |
zui大输入 | 130Vpp |
zui大带宽 | >90KHz |
幅度精度 | ±0.05dB(1kHz) |
平坦度(20Hz~20KHz) | ±0.01dB |
残余输入噪声(20k Hz BW) | 1.4uV |
单次谐波分析 | 2次~10次 |
zui大FFT长度 | 1024k |
互调失真支持 | SMPTE,MOD,DFD |
通道 | 模拟平衡×2,非平衡×2;数字平衡×1,非平衡×1,光纤×1 |
输入阻抗 | 平衡 600Ω/200kΩ,非平衡600Ω/100kΩ |
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